Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Aimed at assessing the capabilities of optical techniques in elucidating fundamental electronic and structural properties of semiconductor and metal surfaces, interfaces, and layer structures, this book assesses usefulness of these techniques for optimization of quality multilayer through feedback control during materials growth and processing.
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.