Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
This book deals with standard spectroscopic techniques which can be used to analyze semiconductor samples or devices, in both, bulk, micrometer and submicrometer scale. The book aims helping experimental physicists and engineers to choose the right analytical spectroscopic technique in order to get specific information about their specific demands.
Discusses microprobe technique and its usefulness as diagnostic technique for device degradation. This book considers various types of probes (electrons, photons and tips) and different microscopes (optical, electron microscopy and tunneling). It is suitable for researchers, crystal growers and optoelectronic device makers.
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.