Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Characterization In Compound Semiconductor Processing
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 212
- Utgitt:
- 16. februar 2010
- Dimensjoner:
- 158x242x16 mm.
- Vekt:
- 474 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 28. mars 2025
Beskrivelse av Characterization In Compound Semiconductor Processing
Reviews the common classes of compound semiconductors, their physical, optical and electrical properties and the various types of methods used for characterizing them when analyzing for defects and application problems. This book features: characterization of III-V Thin Films for Electronic and Optical applications.
Brukervurderinger av Characterization In Compound Semiconductor Processing
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Characterization In Compound Semiconductor Processing finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2025 Tales.no
