Alltid gratis frakt*
Kundene elsker oss
Norges billigste bøker
Hjelp
Logg inn
  1. Hjem
  2. Bøker
  3. Bedrift og læring
  4. CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

del av MRS Proceedings-serien

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Om CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781605111285
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 194
  • Utgitt:
  • 19. november 2009
  • Dimensjoner:
  • 160x236x14 mm.
  • Vekt:
  • 430 g.
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 3. februar 2025

Beskrivelse av CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brukervurderinger av CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155



Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.