Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Conductive Atomic Force Microscopy
- Applications in Nanomaterials
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 384
- Utgitt:
- 11. oktober 2017
- Dimensjoner:
- 251x176x25 mm.
- Vekt:
- 978 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 6. august 2025
Beskrivelse av Conductive Atomic Force Microscopy
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
Brukervurderinger av Conductive Atomic Force Microscopy
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Conductive Atomic Force Microscopy finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2025 Tales.no
