Norges billigste bøker

Bøker av J. Doneker

Filter
Filter
Sorter etterSorter Populære
  • - Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
    av J. Doneker
    5 621,-

    Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.