Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
- Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 524
- Utgitt:
- 1. januar 1998
- Dimensjoner:
- 156x234x30 mm.
- Vekt:
- 975 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 27. januar 2025
Beskrivelse av Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.
Brukervurderinger av Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2025 Tales.no
