Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 197
- Utgitt:
- 12. mai 2018
- Utgave:
- 12018
- Dimensjoner:
- 155x235x0 mm.
- Vekt:
- 3401 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 20. januar 2025
Beskrivelse av High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors.
Brukervurderinger av High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Tales.no
