Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Investigation of Gate Current in Neutron Irradiated Alxga1-Xn/Gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 128
- Utgitt:
- 16. november 2012
- Dimensjoner:
- 189x246x7 mm.
- Vekt:
- 240 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 2. september 2025
Brukervurderinger av Investigation of Gate Current in Neutron Irradiated Alxga1-Xn/Gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Investigation of Gate Current in Neutron Irradiated Alxga1-Xn/Gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence finnes i følgende kategorier: