Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 131
- Utgitt:
- 11 mars 2021
- Utgave:
- 12021
- Dimensjoner:
- 155x235x0 mm.
- Vekt:
- 454 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 23 oktober 2024
Beskrivelse av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.
Brukervurderinger av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Tales.no
