Norges billigste bøker

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Om Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783030683672
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 131
  • Utgitt:
  • 11. mars 2021
  • Utgave:
  • 12021
  • Dimensjoner:
  • 155x235x0 mm.
  • Vekt:
  • 454 g.
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 20. januar 2025
Utvidet returrett til 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres før jul.
    Kjøp nå og skriv ut et gavebevis

Beskrivelse av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Brukervurderinger av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs



Finn lignende bøker
Boken Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.