Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy
- SPM Applications for Nanometrology
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 336
- Utgitt:
- 19. november 2012
- Dimensjoner:
- 191x235x25 mm.
- Vekt:
- 800 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 17. mars 2025
Om Petr (Czech Metrology Institute) Klapetek
Se alle bøkene av Petr (Czech Metrology Institute) KlapetekBeskrivelse av Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy
Provides readers with a number of worked examples to demonstrate typical ways of solving problems in Scanning Probe Microscopy (SPM) analysis. This title uses the advanced research to unlock SPM as a toolkit for nanometrology in fields as diverse as nanotechnology, surface physics, materials engineering, thin film optics, and life sciences.
Brukervurderinger av Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2025 Tales.no
