Alltid gratis frakt*
Kundene elsker oss
Norges billigste bøker
Hjelp
Logg inn
  1. Hjem
  2. Bøker
  3. Bedrift og læring
  4. Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

av Chakrabarty Krishnendu

del av Devices, Circuits, and Systems-serien

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits av Chakrabarty Krishnendu
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781138075771
  • Bindende:
  • Paperback
  • Sider:
  • 264
  • Utgitt:
  • 29. mars 2017
  • Dimensjoner:
  • 156x234x0 mm.
  • Vekt:
  • 490 g.
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 5. mai 2025

Om Chakrabarty Krishnendu

Se alle bøkene av Chakrabarty Krishnendu

Brukervurderinger av Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits



Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.