Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
The Effect of Nuclear Reactions on Integrated Circuit Reliability
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 56
- Utgitt:
- 2. mars 2010
- Dimensjoner:
- 152x229x3 mm.
- Vekt:
- 95 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 11. september 2025
Brukervurderinger av The Effect of Nuclear Reactions on Integrated Circuit Reliability
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken The Effect of Nuclear Reactions on Integrated Circuit Reliability finnes i følgende kategorier: