Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
- Bindende:
- Hardback
- Sider:
- 234
- Utgitt:
- 21. november 2000
- Dimensjoner:
- 156x234x19 mm.
- Vekt:
- 540 g.
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 3. mars 2025
Beskrivelse av Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops.
Brukervurderinger av Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2025 Tales.no
