Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 408
- Utgitt:
- 25. august 2020
- Utgave:
- 12019
- Dimensjoner:
- 155x235x0 mm.
- Vekt:
- 652 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 27. desember 2024
Utvidet returrett til 31. januar 2025
Beskrivelse av Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.
Brukervurderinger av Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Tales.no
