Gjør som tusenvis av andre bokelskere
Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.
Ved å abonnere godtar du vår personvernerklæring.Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
- Instrumentation, Data Analysis and Applications
- Bindende:
- Paperback
- Sider:
- 208
- Utgitt:
- 13. april 2022
- Dimensjoner:
- 246x173x11 mm.
- Vekt:
- 414 g.
-
BLACK NOVEMBER
Gratis frakt
Leveringstid:
2-4 uker
Forventet levering: 19. desember 2024
Om Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Se alle bøkene av Andrew T. S. (National University of Singapore WeeBeskrivelse av Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Brukervurderinger av Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Vurder denne boken
Du må være innlogget for å vurdere denne boken.Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials finnes i følgende kategorier:
Du kan når som helst melde deg av våre nyhetsbrev.
© 2024 Tales.no
