Alltid gratis frakt*
Kundene elsker oss
Norges billigste bøker
Hjelp
Logg inn
  1. Hjem
  2. Bøker
  3. Bedrift og læring
  4. Data og IT
  5. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

av Alvin W. (IBM) Strong

del av IEEE Press Series on Microelectronic Systems-serien

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies av Alvin W. (IBM) Strong
Om Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780471731726
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 640
  • Utgitt:
  • 4. september 2009
  • Dimensjoner:
  • 164x243x34 mm.
  • Vekt:
  • 993 g.
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 20. januar 2025
Utvidet returrett til 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres før jul.
    Kjøp nå og skriv ut et gavebevis

Om Alvin W. (IBM) Strong

Se alle bøkene av Alvin W. (IBM) Strong

Beskrivelse av Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.

Brukervurderinger av Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies



Andre har også kjøpt..
Finn lignende bøker
Boken Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.