Utvidet returrett til 31. januar 2025

Scanning Electron Microscopy

- Physics of Image Formation and Microanalysis

Om Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783540639763
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 529
  • Utgitt:
  • 17. september 1998
  • Utgave:
  • 21998
  • Dimensjoner:
  • 242x166x34 mm.
  • Vekt:
  • 954 g.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 13. desember 2024

Beskrivelse av Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Brukervurderinger av Scanning Electron Microscopy



Finn lignende bøker
Boken Scanning Electron Microscopy finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.