Utvidet returrett til 31. januar 2025

X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

Om X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781860943607
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 316
  • Utgitt:
  • 8. juli 2003
  • Utgave:
  • 2
  • Dimensjoner:
  • 230x154x24 mm.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 20. desember 2024
Utvidet returrett til 31. januar 2025

Beskrivelse av X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.

Brukervurderinger av X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)



Finn lignende bøker
Boken X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition) finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.