Utvidet returrett til 31. januar 2025

Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

- Principles and Applications

Om Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Vis mer
  • Språk:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780470886052
  • Bindende:
  • Hardback
  • Sider:
  • 368
  • Utgitt:
  • 28. juni 2013
  • Dimensjoner:
  • 243x165x21 mm.
  • Vekt:
  • 762 g.
  • BLACK NOVEMBER
  Gratis frakt
Leveringstid: 2-4 uker
Forventet levering: 27. desember 2024
Utvidet returrett til 31. januar 2025

Beskrivelse av Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Brukervurderinger av Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry



Finn lignende bøker
Boken Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry finnes i følgende kategorier:

Gjør som tusenvis av andre bokelskere

Abonner på vårt nyhetsbrev og få rabatter og inspirasjon til din neste leseopplevelse.